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《炬豐科技-半導體工藝》晶體矽太陽能電池應用的HF化學鈍化研究
由 炬豐科技 發表于 遊戲2023-02-02
簡介透過這一點,可以看出,由於HF處理,具有較低的氫端效應的JOU、SiNx膜產生的氫端效應對lifetime的增加有很大作用但是,HF處理產生的氫端效用果相當高的情況下,由於SiNx膜沉積,可以確認lifetime減少,這是因為在SiNx膜沉
化學鈍化什麼意思
書籍:
《炬豐科技
-
半導體工藝》
文章:
晶體矽太陽能電池應用的
HF
化學鈍化研究
編號:
JFKJ-21-969
作者:炬豐科技
引言
最近,作為替代能源,太陽能電池在世界範圍內受到很大的管道種植。太陽能電池是將太陽能轉換為電能的無汙染和半永久性裝置,其發展性備受期待。在多種太陽能電池中,晶體矽太陽能電池佔整個太陽能電池市場的
80%
以上,正處於太陽產業的核心。據預測,這種晶體矽太陽能電池的產業發展戰將持續一段時間。可以說,太陽能電池產業最重要的是提高效率,降低製造單價。為了減少光的表面反射損失,形成了表面組織和防反射膜,形成了防止太陽電池背面電子
-
專業對團聚損失的背面電場,提高了短波長區域光能的吸收率。
在表面鈍化的情況下,減少晶體矽片表面的
dangling bonds
等引起的電子
-
專業對團聚。在
HF
處理引起化學鈍化的情況下,由於晶圓表面的
dangling bonds
等鍵的氫種團,期待鈍化效果。
Si3N4
膜由於最小的氫
(hydrogen)
減少了
dangling bonds
等缺陷、固定電荷
(fixed positive charge)
的電場效應減少了團聚等原因,正被用作或正在研究太陽能電池前
/
後的鈍化膜。本文采用光引起的礦化度
carrier lifetime
測量方法,考察了
N
型矽片的化學
HF(
以下簡稱
HF)
處理效果。
實驗
表
1
顯示了本研究中的實驗方法。樣品採用
4
等分法使用了無電阻
3-5
ω
CM
、厚度
500-550 m
的
N
型
(100) 4inch
單晶矽基板。樣品的基本清洗採用了
RCA
清洗工藝。為了進行
HF
處理,
H2O
使用了
DHF(DHF)
,
DHF
以一定比例稀釋。在室溫下處理
HF
,根據
HF
處理時間測量樣品的
lifetime
,
HF
處理的樣品暴露在空氣中後,確認了
lifetime
隨暴露時間的變化。確認了
HF
處理後離子以不存在的超純水研磨時的生命時間變化。透過沉積
SiNX
來確認
lifetime
隨
HF
處理鈍化和薄膜鈍化的變化。
結果和討論
高頻處理影響
:
對於經過
RCA
清洗的樣品,由於
HF
處理,可以期待兩種效果。第一,可以蝕刻在清洗和精中形成的化學自然氧化膜。在
RCA
清洗的情況下,
H2O2
溶液與其他溶液混合使用,
H2O2
溶液中的氧氣和矽晶片表面的矽
(silicon)
成分發生化學反應,形成
SiO2
膜。由於此時形成的
SiO2
膜偶不規則且生長迅速,因而具有較高的介面態密度(
interface state density
)。 在高介面態密度的情況下,增加了在介面上的團聚速度,降低了太陽能電池的效率,因此會對太陽能電池造成不利影響。 其次推匯出氫端效應,如矽晶片表面的矽原子和氫(
hydrogen
)原子的結合減少了
dangling bonds
的數目。對於
Dangling bonds
來說,由於增加了矽晶片表面電子
-
電孔對的重聯速度,對太陽能電池的效率會產生不利影響。
初始樣品表面的氫端特特顯示了因性沉積
SiNx
膜而產生的額外的氫端效應。透過調節
HF
處理時間調整樣品表面氫端正
≤
後沉積
SiNx
膜。早期樣品表面氫端的丁
≥
越少,可以確認
SiNx
膜引起的氫種單效應越大。透過這一點,可以看出,由於
HF
處理,具有較低的氫端效應的
JOU
、
SiNx
膜產生的氫端效應對
lifetime
的增加有很大作用但是,
HF
處理產生的氫端效用果相當高的情況下,由於
SiNx
膜沉積,可以確認
lifetime
減少,這是因為在
SiNx
膜沉積過程中,氫終止樣品中的矽原分子和氫原子的結合
(Si-H)
大量破裂後,氫解吸,
SiH4
和
NH3
氣體中的矽錐、氮和氫原子與樣品表面的矽原子相互結合,所以現有的矽原子和氫原子的結合減少了。從整體上看,經過
HF
處理後沉積
SiNx
膜可以確認,與不進行
HF
處理而沉積
SiNx
膜相比,色素的
lifetime
增加了。
圖
4
樣品
HF
處理後給予超純
LINSINING
和
SiNx
膜沉積時的
lifetime
變化。用
HF
和
H2O
以
1:1
的比例混合的
DHF
溶液進行
5
秒
HF
處理,然後進行
2
分鐘的研磨,可以明顯地確認
lifetime
減少,原因是氫氣解吸等。另外,由於
rinsing
,樣品表面的氫縱斷面減少了很多,因此沉積
SiNx
膜時氫端效應會增加
lifetime
。
總結
本
方法
增加了
n
型矽片的生命時間。利用
HF
處理進行化學鈍化以顯現。由於
HF
處理產生的氫端效應,
lifetime
增加,但如果處理時間超過一定時間,反而可以確認
lifetime
減少。另外,如果將
HF
處理過的樣品暴露在空氣中,與空氣中的氧氣反應,自然氧化膜形成和氫的解吸可以確認
lifetime
減少。如果在
HF
處理的同時將
SiNx
膜沉積在樣品表面,則在
SiNx
膜沉積前
HF
處理不這樣做的情況下,可以確認具有更高的
lifetime
。